检测基底放置精度的方法和系统

    公开(公告)号:CN110168425A

    公开(公告)日:2019-08-23

    申请号:CN201780083163.2

    申请日:2017-11-16

    Abstract: 本文描述了一种通过使用图像处理算法来测量基底(102)与该基底设置于其上的平台(104)之间的对准的方法和系统。这些算法自动检测数字图像(100)中显微镜载玻片和该平台(106和108)的边缘(112和114)。该平台的图像中的基准线图案(110)可用于基于该图像中的基准线图案的计算位置来检测平台边缘(106和108)。

    检测基底放置精度的方法和系统

    公开(公告)号:CN110168425B

    公开(公告)日:2021-07-30

    申请号:CN201780083163.2

    申请日:2017-11-16

    Abstract: 本文描述了一种通过使用图像处理算法来测量基底(102)与该基底设置于其上的平台(104)之间的对准的方法和系统。这些算法自动检测数字图像(100)中显微镜载玻片和该平台(106和108)的边缘(112和114)。该平台的图像中的基准线图案(110)可用于基于该图像中的基准线图案的计算位置来检测平台边缘(106和108)。

Patent Agency Ranking