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公开(公告)号：CN112557496A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202011317495.2
申请日：2020-11-20
Applicant: 广东先导稀材股份有限公司
IPC: G01N27/64
Abstract: 本发明提供了一种用于辉光放电质谱检测的针状样品的制备方法及其应用，属于分析检测技术领域。本发明将液体镓注入到针状样品架中，再把待测样品插入到液体镓中，然后将该样品架插入液氮中冷却，待液体镓凝固后，取出样品架，即得针状样品，这样所得针状样品用于辉光放电质谱检测时，具有很好的冷却效果，可以避免在检测低熔点的样品时样品发生熔化，同时，扩宽了辉光放电质谱可检测的样品尺寸范围，能直接测定尺寸为0～3mm×0～3mm×8～22mm的导体和半导体。
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公开(公告)号：CN116380607A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310265594.8
申请日：2023-03-16
Applicant: 广东先导稀材股份有限公司
Abstract: 本发明属于检测领域，公开了一种高纯镓样品的前处理方法，采用配置时间不少于12h的王水清洗高纯镓样品不少于2次；所述王水的温度为‑9～‑11℃。采用本发明的方法进行处理后的高纯镓，采用传统的GDMS方法检测，其检测精度高。同时，本发明还提供了一种高纯镓的检测方法。
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公开(公告)号：CN108918649B
公开(公告)日：2021-02-19
申请号：CN201810268060.X
申请日：2018-03-29
Applicant: 广东先导稀材股份有限公司
IPC: G01N27/68 , G01N27/626 , G01N1/28
Abstract: 本发明提供了定量检测三氧化二铋中痕量杂质的方法，获得一种三氧化二铋的标准品，来修正辉光放电质谱仪的相对灵敏度因子，为三氧化二铋中痕量杂质的准确定量提供依据。
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公开(公告)号：CN110470724A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201910887649.2
申请日：2019-09-19
Applicant: 广东先导稀材股份有限公司
IPC: G01N27/68
Abstract: 本发明涉及一种高纯二氧化硅中痕量杂质元素的测定方法，包括以下步骤：(1)将待测的高纯二氧化硅颗粒放置于钽制容器中，装入辉光放电质谱仪的样品池中；(2)液氮冷却样品池，调节辉光放电电流、气体流量、放电电压和预溅射时间；(3)进行直流辉光放电质谱仪分析，采集待测杂质元素的信号强度，计算待测杂质元素的含量。本发明实现了直流辉光放电质谱仪对颗粒状的高纯二氧化硅中痕量杂质的测定，和其它检测方法相比，本发明不需要将二氧化硅样品和导体样品研磨、混合、压片，简化了二氧化硅样品的处理步骤，基体信号强度可达1×108CPS，满足高纯产品的检测需求，为其它不导电的颗粒样品的杂质检测提供了思路。
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公开(公告)号：CN108918649A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810268060.X
申请日：2018-03-29
Applicant: 广东先导稀材股份有限公司
CPC classification number: G01N27/68 , G01N1/286 , G01N27/62 , G01N2001/2866
Abstract: 本发明提供了定量检测三氧化二铋中痕量杂质的方法，获得一种三氧化二铋的标准品，来修正辉光放电质谱仪的相对灵敏度因子，为三氧化二铋中痕量杂质的准确定量提供依据。
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公开(公告)号：CN113702485B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202111091904.6
申请日：2021-09-17
Applicant: 广东先导稀材股份有限公司
IPC: G01N27/64
Abstract: 本发明涉及分析检测技术领域，公开了一种测定块状氮化铝中痕量杂质元素含量的方法。该方法包括：（1）将钽片与第一酸性溶剂进行第一接触，得到腐蚀钽片；以及将待测块状氮化铝样品与第二酸性溶剂进行第二接触，得到腐蚀待测块状氮化铝样品；其中，所述钽片上每间隔1‑2mm设有直径为1‑2mm的通孔；所述第一酸性溶剂、所述第二酸性溶剂均为用量体积比为5‑10:1的硝酸和氢氟酸混合溶液；将所述腐蚀钽片放置于所述腐蚀待测块状氮化铝样品上，并采用直流辉光放电质谱仪进行分析。本发明提供的方法操作简单，不容易引入污染，能够提高检测结果准确性。
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公开(公告)号：CN115201319A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202110395842.1
申请日：2021-04-13
Applicant: 广东先导稀材股份有限公司
Abstract: 本发明提供了一种用于辉光放电质谱仪检测的样品的制备方法，包括以下步骤：a)将待测样品通过PTFE模具与镓结合，得到用于辉光放电质谱仪检测的样品。本发明通过将小尺寸、不规整的块状样品和镓凝固在一起，或将粉末样品压在Ga的表面的制样方法，可以测定样品中的In及除镓以外的其它杂质含量；此方法和In包裹制样的方法互为补充，可以获得样品更全面的杂质信息，同时，和钽勺的制样方法相比，此方法扩宽了可测定的样品尺寸范围，同时也避免了钽勺装载粉末样品时，被仪器抽真空抽走的问题；从而能够同时满足小块状样品和粉末样品的检测要求，并且可用来测定尺寸小于11mm的不规整块状导体、半导体样品和粉末样品中的In及其它杂质含量。
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公开(公告)号：CN113702485A
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN202111091904.6
申请日：2021-09-17
Applicant: 广东先导稀材股份有限公司
IPC: G01N27/64
Abstract: 本发明涉及分析检测技术领域，公开了一种测定块状氮化铝中痕量杂质元素含量的方法。该方法包括：（1）将钽片与第一酸性溶剂进行第一接触，得到腐蚀钽片；以及将待测块状氮化铝样品与第二酸性溶剂进行第二接触，得到腐蚀待测块状氮化铝样品；其中，所述钽片上每间隔1‑2mm设有直径为1‑2mm的通孔；所述第一酸性溶剂、所述第二酸性溶剂均为用量体积比为5‑10:1的硝酸和氢氟酸混合溶液；将所述腐蚀钽片放置于所述腐蚀待测块状氮化铝样品上，并采用直流辉光放电质谱仪进行分析。本发明提供的方法操作简单，不容易引入污染，能够提高检测结果准确性。
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公开(公告)号：CN219890852U
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202320534683.3
申请日：2023-03-16
Applicant: 广东先导稀材股份有限公司
Abstract: 本实用新型属于检测设备领域，公开了一种模具，包括模芯，还包括套筒、模芯环箍；所述模芯由第一模芯、第二模芯组成；所述第一模芯设有第一模腔，所述第二模芯设有第二模腔，所述第一模腔和第二模腔合模形成一个圆柱形模腔；所述模芯的外壁和套筒的内壁匹配；所述圆柱形模腔的顶部为开放侧；所述圆柱形模腔的底部设有至少一根和大气导通的毛细管。该模具采用可开模的第一模芯、第二模芯来成型得到长条状的圆柱形的镓，采用模芯环箍箍住模芯的上部，采用套筒箍住模芯的下部，解决了原有聚四氟乙烯管制备镓的过程中不易取料或物料弯曲的问题。
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