公开(公告)号：CN115060651B

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN202210704247.6

申请日：2022-06-21

Applicant: 安徽工业大学

Inventor： 邹勇 ,  李国友 ,  彭子明 ,  吴义云 ,  丁守军 ,  任浩

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/41

Abstract: 本发明公开了一种基于双光束干涉的非接触式空间物质分布检测系统，涉及光学技术领域，包括：光源发射装置，用于向待测区域中的待测物体的不同截面上分别发射平行激光束；第一透镜，用于使透过待测物体后激光束被聚焦成一点；剪切干涉装置，用于将光束剪切成两束偏振方向相互垂直的光束；第一偏振片，用于将两束偏振方向相互垂直的光归一化后形成干涉条纹；摄像装置，用于接收干涉条纹所形成的干涉图像；数据处理模块，用于将待测物体的不同截面上的干涉条纹进行堆叠，并获取待测物体的物理量的三维分布信息，实现待测物体的物理量的空间物质分布检测。本发明实现非接触式、三维空间测量，可用于折射率、温度、浓度、湿度、压力场等测量。

公开(公告)号：CN115060651A

公开(公告)日：2022-09-16

申请号：CN202210704247.6

申请日：2022-06-21

Applicant: 安徽工业大学

Inventor： 邹勇 ,  李国友 ,  彭子明 ,  吴义云 ,  丁守军 ,  任浩

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/41

Abstract: 本发明公开了一种基于双光束干涉的非接触式空间物质分布检测系统，涉及光学技术领域，包括：光源发射装置，用于向待测区域中的待测物体的不同截面上分别发射平行激光束；第一透镜，用于使透过待测物体后激光束被聚焦成一点；剪切干涉装置，用于将光束剪切成两束偏振方向相互垂直的光束；第一偏振片，用于将两束偏振方向相互垂直的光归一化后形成干涉条纹；摄像装置，用于接收干涉条纹所形成的干涉图像；数据处理模块，用于将待测物体的不同截面上的干涉条纹进行堆叠，并获取待测物体的物理量的三维分布信息，实现待测物体的物理量的空间物质分布检测。本发明实现非接触式、三维空间测量，可用于折射率、温度、浓度、湿度、压力场等测量。