一种校正并行交替采样信号误差的方法及系统

    公开(公告)号:CN101212434B

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN200610169876.4

    申请日:2006-12-29

    IPC分类号: H04L25/08 H04L5/22

    摘要: 本发明公开了一种校正并行交替采样信号误差的方法及系统,用以解决现有技术校正并行交替采样信号误差的过程复杂,可被校正采样误差的信号种类少的问题。本发明方法包括:A.利用占空比相同的预处理信号对信号进行数据预处理,获得第一信号;B.校正所述第一信号的采样误差,获得第二信号;C.利用所述预处理信号对所述第二信号进行数据后处理,获得校正了采样误差的信号。本发明还公开了一种校正并行交替采样信号误差的系统。本发明用于校正并行交替采样信号误差,使得并行交替采样系统所产生的采样误差可以得到很好的校正,而且增多了可被校正采样误差的信号种类,降低了校正采样误差的处理难度。

    一种估计OFDM_TDD系统的调制精度的方法和装置

    公开(公告)号:CN101499982A

    公开(公告)日:2009-08-05

    申请号:CN200810057203.9

    申请日:2008-01-30

    摘要: 本发明公开了一种估计时分复用的正交频分复用(OFDM_TDD)系统的调制精度的方法,包括:对接收到的I路和Q路信号进行滤波抽取,并对所抽取的信号进行时间偏移调整和频率偏移调整;对所述调整后的信号进行解调,生成测量信号,并对所述测量信号进行硬判,并对硬判后的信号重新调制,生成参考信号;将所述测量信号和参考信号相减,得到误差信号,再根据误差信号和参考信号计算得到误差向量值(EVM)。本发明还公开了一种估计时分复用的正交频分复用系统的调制精度的装置。本发明方案解调后的信号一方面生成参考信号,另外一方面生成测量信号,无需信道译码的处理即可得到EVM,是一种可适用于OFDM_TDD系统的调制精度估计方案。

    一种估计OFDM_TDD系统的调制精度的方法和装置

    公开(公告)号:CN101499982B

    公开(公告)日:2013-04-03

    申请号:CN200810057203.9

    申请日:2008-01-30

    摘要: 本发明公开了一种估计时分复用的正交频分复用(OFDM_TDD)系统的调制精度的方法,包括:对接收到的I路和Q路信号进行滤波抽取,并对所抽取的信号进行时间偏移调整和频率偏移调整;对所述调整后的信号进行解调,生成测量信号,并对所述测量信号进行硬判,并对硬判后的信号重新调制,生成参考信号;将所述测量信号和参考信号相减,得到误差信号,再根据误差信号和参考信号计算得到误差向量值(EVM)。本发明还公开了一种估计时分复用的正交频分复用系统的调制精度的装置。本发明方案解调后的信号一方面生成参考信号,另外一方面生成测量信号,无需信道译码的处理即可得到EVM,是一种可适用于OFDM_TDD系统的调制精度估计方案。

    一种校正并行交替采样信号误差的方法及系统

    公开(公告)号:CN101212434A

    公开(公告)日:2008-07-02

    申请号:CN200610169876.4

    申请日:2006-12-29

    IPC分类号: H04L25/08 H04L5/22

    摘要: 本发明公开了一种校正并行交替采样信号误差的方法及系统,用以解决现有技术校正并行交替采样信号误差的过程复杂,可被校正采样误差的信号种类少的问题。本发明方法包括:A.利用占空比相同的预处理信号对信号进行数据预处理,获得第一信号;B.校正所述第一信号的采样误差,获得第二信号;C.利用所述预处理信号对所述第二信号进行数据后处理,获得校正了采样误差的信号。本发明还公开了一种校正并行交替采样信号误差的系统。本发明用于校正并行交替采样信号误差,使得并行交替采样系统所产生的采样误差可以得到很好的校正,而且增多了可被校正采样误差的信号种类,降低了校正采样误差的处理难度。