公开(公告)号：CN204396329U

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201420696228.4

申请日：2014-11-19

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 矢内章博 ,  高田荣和 ,  大岩浩二

IPC: B07B7/02 ,  G01N1/22

CPC classification number: B07B7/02 ,  B07B7/12 ,  G01N1/2202 ,  G01N15/02 ,  G01N2001/2223

Abstract: 提供能简单地改变粒子的分级范围的粒子分离装置以及粒子测定装置。粒子测定装置(10A)的粒子分离装置(20A)具有：风扇(4)，其产生从外部导入气体的气流；以及电力供给部(21)，其供给用于风扇(4)产生驱动输出的电力，将导入的气体所包含的粒子利用其惯性力分离。设有驱动控制部(22)，其以将从电力供给部(21)向风扇(4)施加第1电压的第1电压驱动状态和从电力供给部(21)向风扇(4)施加比第1电压低的第2电压驱动状态连续地重复的间歇驱动模式驱动风扇(4)。