公开(公告)号：CN110609019A

公开(公告)日：2019-12-24

申请号：CN201910517054.8

申请日：2019-06-14

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 佐藤大纪 ,  满仲健

IPC: G01N21/64

Abstract: 荧光检测传感器包括：用激发光照射检查目标的激发光源；具有通过光电二极管检测光的光子检测部的半导体集成电路；以及控制单元，其使得保持在光电二极管上的检查目标为用激发光照射，并且在激发光被淬灭之后，通过光子检测部检测从检查目标发射的荧光。在光子检测部上方提供由作为半导体集成电路的组件之一的金属布线层形成的滤波器。

公开(公告)号：CN110711490A

公开(公告)日：2020-01-21

申请号：CN201910621337.7

申请日：2019-07-10

Applicant: 夏普株式会社 ,  国立大学法人东京大学

Inventor： 饭塚邦彦 ,  满仲健 ,  佐藤大纪 ,  藤井辉夫 ,  金秀炫

IPC: B01D57/02

Abstract: 本发明提供一种能够节省空间的粒子分离装置，其包括：流路(4)，其包含沿特定上表面形成的干线(14)；以及偏转电极对(9及19)，其通过介电电泳使非目标微粒(1)和目标微粒(2)在与特定上表面大致垂直的方向上分离。

公开(公告)号：CN110711490B

公开(公告)日：2022-09-06

申请号：CN201910621337.7

申请日：2019-07-10

Applicant: 夏普株式会社 ,  国立大学法人东京大学

Inventor： 饭塚邦彦 ,  满仲健 ,  佐藤大纪 ,  藤井辉夫 ,  金秀炫

IPC: B01D57/02

Abstract: 本发明提供一种能够节省空间的粒子分离装置，其包括：流路(4)，其包含沿特定上表面形成的干线(14)；以及偏转电极对(9及19)，其通过介电电泳使非目标微粒(1)和目标微粒(2)在与特定上表面大致垂直的方向上分离。