公开(公告)号：CN1243241C

公开(公告)日：2006-02-22

申请号：CN200310109224.8

申请日：2003-12-10

Applicant: 复旦大学

Inventor： 曹冠英 ,  何培松 ,  孙大林 ,  陈国荣

IPC: G01N33/22

Abstract: 本发明是一种纳米贮氢材料贮氢量的测量方法。由于纳米材料尺寸小、重量轻，因此现有测量材料贮氢量的方法测量纳米材料时有很大困难及误差。本发明运用真空镀膜中计算机薄膜厚度实时监测系统，测量生长在其石英晶片上的纳米材料的贮氢性能。膜厚监测系统中的石英晶体振荡仪是基于石英晶体微量称(QCM)的基本原理，通过测量待测样品生长过程及贮氢前后其共振频率的改变量，辅以石英晶体初始共振频率的修改，获得了纳米贮氢材料的重量贮氢量。本发明将真空镀膜中实时监测膜厚沉积厚度的石英晶体振荡法运用纳米材料贮氢量的测定，精度高，灵敏度好，获得令人满意的效果。

公开(公告)号：CN1547012A

公开(公告)日：2004-11-17

申请号：CN200310109224.8

申请日：2003-12-10

Applicant: 复旦大学

Inventor： 曹冠英 ,  何培松 ,  孙大林 ,  陈国荣

IPC: G01N33/22

Abstract: 本发明是一种纳米贮氢材料贮氢量的测量方法。由于纳米材料尺寸小、重量轻，因此现有测量材料贮氢量的方法测量纳米材料时有很大困难及误差。本发明运用真空镀膜中计算机薄膜厚度实时监测系统，测量生长在其石英晶片上的纳米材料的贮氢性能。膜厚监测系统中的石英晶体振荡仪是基于石英晶体微量称(QCM)的基本原理，通过测量待测样品生长过程及贮氢前后其共振频率的改变量，辅以石英晶体初始共振频率的修改，获得了纳米贮氢材料的重量贮氢量。本发明将真空镀膜中实时监测膜厚沉积厚度的石英晶体振荡法运用纳米材料贮氢量的测定，精度高，灵敏度好，获得令人满意的效果。