公开(公告)号：CN104535534A

公开(公告)日：2015-04-22

申请号：CN201410777264.8

申请日：2014-12-15

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 苑立波 ,  张晓彤 ,  郭晓宇 ,  苑勇贵 ,  杨军

IPC: G01N21/45

Abstract: 本发明属于光学技术领域，具体涉及一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置及测量方法。一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置，由光纤Michelson干涉仪、精密三维位移平台和信号处理单元，由宽带白光光源及其驱动器、3dB光纤耦合器、光纤准直器、反射扫描镜、带有准直器的探测光纤、光探测器、信号处理单元、待测光纤预制棒、精密三维位移平台组成。本发明提出的光纤预制棒折射率剖面测量装置具有结构简单、测量方便、操作调节简单等优点。

公开(公告)号：CN104535534B

公开(公告)日：2017-08-04

申请号：CN201410777264.8

申请日：2014-12-15

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 苑立波 ,  张晓彤 ,  郭晓宇 ,  苑勇贵 ,  杨军

IPC: G01N21/45

Abstract: 本发明属于光学技术领域，具体涉及一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置及测量方法。一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置，由光纤Michelson干涉仪、精密三维位移平台和信号处理单元，由宽带白光光源及其驱动器、3dB光纤耦合器、光纤准直器、反射扫描镜、带有准直器的探测光纤、光探测器、信号处理单元、待测光纤预制棒、精密三维位移平台组成。本发明提出的光纤预制棒折射率剖面测量装置具有结构简单、测量方便、操作调节简单等优点。

公开(公告)号：CN204359686U

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201420796280.7

申请日：2014-12-15

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 苑立波 ,  张晓彤 ,  郭晓宇 ,  苑勇贵 ,  杨军

IPC: G01N21/45

Abstract: 本实用新型属于光学技术领域，具体涉及一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置。一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置，由光纤Michelson干涉仪、精密三维位移平台和信号处理单元，由宽带白光光源及其驱动器、3dB光纤耦合器、光纤准直器、反射扫描镜、带有准直器的探测光纤、光探测器、信号处理单元、待测光纤预制棒、精密三维位移平台组成。本实用新型提出的光纤预制棒折射率剖面测量装置具有结构简单、测量方便、操作调节简单等优点。