公开(公告)号：CN109708580A

公开(公告)日：2019-05-03

申请号：CN201910062780.5

申请日：2019-01-23

Applicant: 吉林大学

Inventor： 李芳菲 ,  董智强 ,  凌美琦 ,  蒋引珊 ,  薛兵 ,  张立功 ,  于春生 ,  韩明磊 ,  任桂花 ,  刘尧

IPC: G01B11/06 ,  G01N30/02

Abstract: 本发明涉及一种基于UV-vis液相吸收光谱表征伊利石微片层厚度的方法，属于粉体材料工业测试研究领域。本发明充分利用伊利石的结构特点、片层优异的光反射能力和UV-vis液相吸收光谱测试原理，在已知伊利石基准样微片厚度的前提下，成功地推算出其他工艺处理的伊利石微片的厚度，无需对所有待测样品都进行一系列的综合颗粒尺寸分析，既可获得待测样品较为可靠的微片层厚度信息。该方法不仅减少了工作量、提高了效率、不依赖于大型设备，而且所得数据更为客观完整、保持了样品的宏观特征。