公开(公告)号：CN110988028A

公开(公告)日：2020-04-10

申请号：CN201911300341.X

申请日：2019-12-17

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 胡二涛 ,  卢文生 ,  王政勇 ,  吴莹 ,  王静 ,  韦玮 ,  余柯涵

IPC: G01N25/20

Abstract: 本发明公开了一种塞贝克系数自动测量装置。本发明涉及热电材料的塞贝克系数测量技术领域，包括真空腔体(13)及设置在真空腔体(13)内部的绝缘绝热板(1)、两块热电片(2)、样品(3)、两个温度探头(4)、压针(5)、电极探针(6)、温度采集模块(7)、温度控制模块(8)、电压采集模块(9)、单片机控制系统(10)、温度\电压显示模块(11)及电源(12)；本装置能够根据预置的温度测量区间和测量周期，完成样品塞贝克系数的自动测量，简化测量流程，提高测量效率。再者，利用单片机控制系统进行检测和控制，可将样品两端电压和温度实时显示，方便人员操作和判断。

公开(公告)号：CN110066983A

公开(公告)日：2019-07-30

申请号：CN201910413329.3

申请日：2019-05-17

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 胡二涛 ,  王政勇 ,  卢文生 ,  韦玮 ,  余柯涵

IPC: C23C14/35 ,  C23C14/50 ,  C23C14/54

Abstract: 本发明提出了一种薄膜制备辅助装置，用于安装在镀膜仪器上辅助制备薄膜，包括辅助结构、支撑结构和控制结构，所述辅助结构设置于所述支撑结构上，所述辅助结构与所述控制结构传动连接，所述辅助结构包括移动滑轨，所述移动滑轨上搭载有滑块，所述滑块的一侧固定连接有挡板，所述挡板下方设置有长方形凹槽。本发明还公开了一种薄膜制备方法。本装置可以在基片上制备厚度均匀变化的楔形薄膜或者阶梯型薄膜，其整体结构简单、小巧紧凑，操作简单方便，适用于各类镀膜仪器。