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公开(公告)号：CN105823935B
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201610317732.2
申请日：2016-05-13
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明公开了一种半电波暗室场均匀性测试装置，包括半电波暗室和控制室，控制室位于半电波暗室外，且半电波暗室和控制室互为独立空间，半电波暗室内设置有发射天线和全向场探头，且发射天线和全向场探头之间的地上铺设有吸波材料；控制室内设置有信号发生器，信号发生器依次连接有功率放大器和定向耦合器，定向耦合器通过射频电缆连接位于半电波暗室内的发射天线。本发明能够对不同尺寸的半电波暗室进行场均匀性的测试，能够根据不同的半电波暗室尺寸，寻找到在电磁辐射抗扰度试验中EUT的最佳位置，从而能够更加准确的评估EUT的抗干扰性能，使结果更加的准确可靠，提高了测试效率，有效降低了测试成本和生产成本。
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公开(公告)号：CN105823935A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201610317732.2
申请日：2016-05-13
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明公开了一种半电波暗室场均匀性测试装置，包括半电波暗室和控制室，控制室位于半电波暗室外，且半电波暗室和控制室互为独立空间，半电波暗室内设置有发射天线和全向场探头，且发射天线和全向场探头之间的地上铺设有吸波材料；控制室内设置有信号发生器，信号发生器依次连接有功率放大器和定向耦合器，定向耦合器通过射频电缆连接位于半电波暗室内的发射天线。本发明能够对不同尺寸的半电波暗室进行场均匀性的测试，能够根据不同的半电波暗室尺寸，寻找到在电磁辐射抗扰度试验中EUT的最佳位置，从而能够更加准确的评估EUT的抗干扰性能，使结果更加的准确可靠，提高了测试效率，有效降低了测试成本和生产成本。
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公开(公告)号：CN205608094U
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201620433281.4
申请日：2016-05-13
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本实用新型公开了一种半电波暗室场均匀性测试装置，包括半电波暗室和控制室，控制室位于半电波暗室外，且半电波暗室和控制室互为独立空间，半电波暗室内设置有发射天线和全向场探头，且发射天线和全向场探头之间的地上铺设有吸波材料；控制室内设置有信号发生器，信号发生器依次连接有功率放大器和定向耦合器，定向耦合器通过射频电缆连接位于半电波暗室内的发射天线。本实用新型能够对不同尺寸的半电波暗室进行场均匀性的测试，能够根据不同的半电波暗室尺寸，寻找到在电磁辐射抗扰度试验中EUT的最佳位置，从而能够更加准确的评估EUT的抗干扰性能，使结果更加的准确可靠，提高了测试效率，有效降低了测试成本和生产成本。
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