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公开(公告)号：CN114978386A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210494277.9
申请日：2022-05-07
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: H04B17/391 , H04B17/318
Abstract: 本发明公开了一种基于组合法的Nakagami衰落信道仿真方法，包括步骤如下：S1，设置生成Nakagami衰落信道所需参数；S2，采用正弦波叠加法，生成瑞利衰落信道随机序列；S3，采用正弦波叠加法，生成莱斯衰落信道随机序列；S4，将瑞利衰落信道随机序列和莱斯衰落信道随机序列进行叠加生成Nakagami衰落信道；S5，对Nakagami衰落信道进行仿真分析。本发明考虑了移动台与入射波方向夹角α0，能仿真任意参数下的Nakagami衰落信道，研究了不同角度下功率谱密度变化情况。
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公开(公告)号：CN114978385A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210492729.X
申请日：2022-05-07
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: H04B17/391 , H04B17/318
Abstract: 本发明公开了一种Nakagami衰落信道仿真方法。首先进行参数初始化，基于正弦波叠加法生成直射路径分量和多径散射分量；然后将直射路径分量和多径散射分量叠加生成Nakagami衰落信道；最后对Nakagami衰落信道进行一阶和二阶统计特性分析。本发明考虑了散射体相对于移动路径的平均入射角，研究了不同角度下功率谱密度的变化情况，更加符合实际信道特性。本发明不仅可以同时获得精确的一二阶统计特性，而且运算复杂度低，占用资源少，适用于在FPGA硬件平台生成任意m参数Nakagami衰落信道。
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公开(公告)号：CN114978385B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202210492729.X
申请日：2022-05-07
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: H04B17/391 , H04B17/318
Abstract: 本发明公开了一种Nakagami衰落信道仿真方法。首先进行参数初始化，基于正弦波叠加法生成直射路径分量和多径散射分量；然后将直射路径分量和多径散射分量叠加生成Nakagami衰落信道；最后对Nakagami衰落信道进行一阶和二阶统计特性分析。本发明考虑了散射体相对于移动路径的平均入射角，研究了不同角度下功率谱密度的变化情况，更加符合实际信道特性。本发明不仅可以同时获得精确的一二阶统计特性，而且运算复杂度低，占用资源少，适用于在FPGA硬件平台生成任意m参数Nakagami衰落信道。
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公开(公告)号：CN114978386B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202210494277.9
申请日：2022-05-07
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: H04B17/391 , H04B17/318
Abstract: 本发明公开了一种基于组合法的Nakagami衰落信道仿真方法，包括步骤如下：S1，设置生成Nakagami衰落信道所需参数；S2，采用正弦波叠加法，生成瑞利衰落信道随机序列；S3，采用正弦波叠加法，生成莱斯衰落信道随机序列；S4，将瑞利衰落信道随机序列和莱斯衰落信道随机序列进行叠加生成Nakagami衰落信道；S5，对Nakagami衰落信道进行仿真分析。本发明考虑了移动台与入射波方向夹角α0，能仿真任意参数下的Nakagami衰落信道，研究了不同角度下功率谱密度变化情况。
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