公开(公告)号：CN117074531A

公开(公告)日：2023-11-17

申请号：CN202311068545.1

申请日：2023-08-23

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 陈晓 ,  戴杰

IPC: G01N29/04

Abstract: 本发明公开了一种基于参考信号预测的兰姆波损伤概率成像方法，包括：获取布置在目标检测区域传感器阵列中每条路径上响应信号，计算每条路径上响应信号的希尔伯特谱；确定初始信号及其对应路径长度；计算每条路径的参考信号的希尔伯特谱；根据每条路径上响应信号的希尔伯特谱和参考信号的希尔伯特谱，计算这条路径的希尔伯特谱损伤指数；根据每条路径发射传感器和接收传感器的坐标，计算这条路径的成像区域内坐标点处的空间分布函数；根据所有路径的希尔伯特谱损伤指数和空间分布函数，利用椭圆概率成像方法对目标检测区域内的缺陷进行成像。直接分析待检测薄板结构的有损信号，实现全部区域的缺陷检测成像，使得检测的效率和准确度大大增加。

公开(公告)号：CN117054524A

公开(公告)日：2023-11-14

申请号：CN202311064111.4

申请日：2023-08-23

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 陈晓 ,  戴杰

IPC: G01N29/04

Abstract: 本发明公开了一种基于相同传播距离的兰姆波无基准损伤检测成像方法，包括：获取布置在目标检测区域传感器阵列中每条路径上响应信号，计算每条路径上响应信号的功率谱密度值；将相同传播距离的路径分至一组，将每组中功率谱密度值最大的响应信号对应的路径作为无损路径；针对每组，根据同组的一条路径上响应信号的功率谱密度值与无损路径上响应信号的功率谱密度值计算这条路径的功率谱损伤指数；根据每条路径发射传感器和接收传感器的坐标，计算这条路径的成像区域内坐标点处的空间分布函数；根据所有路径的功率谱损伤指数和空间分布函数，利用椭圆概率成像方法对目标检测区域内的缺陷进行成像。提高了检测的效率和准确度。