一种基于频谱分析仪射频信号相位测量方法

    公开(公告)号:CN108459211A

    公开(公告)日:2018-08-28

    申请号:CN201810409361.X

    申请日:2018-04-28

    Inventor: 万发雨 刘方方

    Abstract: 本发明涉及基于频谱分析仪射频信号相位测量方法,包括如下步骤:步骤1)设定待测信号;步骤2)引入一个已知参考信号,如式(1),所述参考信号的幅值和相位均为已知;步骤3)将待测信号与参考信号分别从功率合成器的输入端输入,并通过功率合成器在输出端产生一合成信号;步骤4)根据矢量合成,得到功率合成器输出合成信号的电压;步骤5)根据余弦定理,得到合成信号的幅值,步骤6)根据式(4)计算出待测信号相位。有益效果:实现了对射频信号相位的测量。通过ADS仿真结果和MATLAB计算结果对比证明,在理想情况下,本申请所提出的射频信号相位测量方法适用于对频率从DC到数十GHz的信号相位的提取。

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