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发明公开
一种表面裂缝的统计方法审中-实审

公开(公告)号：CN117437222A

公开(公告)日：2024-01-23

申请号：CN202311744959.1

申请日：2023-12-19

Applicant: 华侨大学

Inventor： 侯炜 , 高盈皓 , 张艺欣 , 刘洋

IPC: G06T7/00 , G06T5/00 , G06T7/246 , G06T7/60 , G06T7/90

Abstract: 本发明提供了一种表面裂缝的统计方法，属于图像处理技术领域。本发明的统计方法通过在待检测区域涂覆白漆降低了环境噪音对裂缝识别的影响；并且本发明的统计方法基于深度优先搜索算法提高了裂缝的识别精度和速度；此外，本发明的统计方法通过对裂缝族中每条裂缝的单独追踪，解决了因裂缝交错分离，难以准确统计裂缝信息的问题。

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