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公开(公告)号：CN111380914A
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN202010324615.5
申请日：2020-04-23
Applicant: 华中科技大学无锡研究院
IPC: G01N25/72
Abstract: 本发明涉及无损检测技术领域，具体公开了一种无损检测装置，其中，包括：直流磁化组件和热成像组件，所述热成像组件设置在被测试件的一侧，所述被测试件穿过所述磁化组件设置，所述直流磁化组件能够对所述被测试件进行磁化；所述热成像组件能够向所述被测试件的表面发射脉冲激光束，并采集所述被测试件的表面热成像图像，以及将所述表面热成像图像发送至上位机，其中所述表面热成像图像能够显示所述直流磁化组件和所述热成像组件共同作用下所述被测试件表面的温度场分布。本发明还公开了一种无损检测系统及方法。本发明提供的无损检测装置解决了常规漏磁检测中的探头磨损问题，且解决了常规红外成像无法对试件内部的探测的问题。
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