公开(公告)号：CN117198378A

公开(公告)日：2023-12-08

申请号：CN202311316198.X

申请日：2023-10-11

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 程晓敏 ,  何强 ,  葛翔 ,  谢雯宇 ,  缪向水

IPC: G11C29/56 ,  G11C29/00

Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的存储器阵列测试系统，用于对还未封装且未添加外围电路的存储器进行测试，包括：FPGA，作为整个测试系统的控制模块；激励源，用于输出对存储器单元的操作电压；读电路，用于读取选中存储单元的电阻值；阵列选通模块，包括行选通电路和列选通电路，用于选择阵列中的单个存储单元；上位机，用于根据用户操作输出对脉冲电压的脉宽与幅值，扫描电压的步进时间、步进电压与扫描点数，所选中存储单元的字线与位线的控制信号，并将接收来自FPGA的电阻数据以图表形式呈现。本发明在PCB上搭建测试电路，相较于传统的探针测试，有效降低测试时间，提高测试效率，为存储器阵列搭建外围集成电路前进行原型验证。

公开(公告)号：CN117253533A

公开(公告)日：2023-12-19

申请号：CN202311316190.3

申请日：2023-10-11

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 何强 ,  程晓敏 ,  葛翔 ,  谢雯宇 ,  缪向水

IPC: G11C29/56 ,  G11C29/00

Abstract: 本发明公开了一种存储阵列选通测试系统，用于对还未封装且未添加外围电路的存储器进行测试，包括：阵列控制模块，用于根据设定的参数输出相应的控制信号；阵列选通模块，包括行选通电路和列选通电路，两选通电路均包括多路复用选择器和模拟开关，两选通电路中的多路复用选择器的通道数量对应与阵列中的字线和位线数量相匹配，两选通电路中的模拟开关的接口数量对应与阵列中的字线和位线数量相匹配；其中，多路复用选择器用于根据所述控制信号，将读写擦操作电压分配到所选择的字线中，并将所选择的位线接地；模拟开关用于根据所述控制信号，将偏置电压分配到所有未选择的字线与位线中。本发明能有效降低测试时间，提高测试效率。