公开(公告)号：CN106408553A

公开(公告)日：2017-02-15

申请号：CN201510452754.5

申请日：2015-07-29

Applicant: 北京空间飞行器总体设计部

Inventor： 金丽花 ,  和涛 ,  伊成俊 ,  关琦

IPC: G06T7/00

Abstract: 本发明提供了一种斜扫的红外线阵探测器的目标响应分析方法，给出了以点源目标在像平面的位置中心、TDI探测器像元在积分起始时刻的位置、TDI探测器拓扑结构、TDI级数、采样间隔、垂直扫描方向与探测器线列方向的夹角为变量的目标响应表达式。因此，使用本发明的方法，可定量分析复杂拓扑结构的红外线阵扫描TDI探测器在任意方向扫描时的目标响应，能够以用户感兴趣的参数作为变量进行典型目标响应的分析，作为优化红外线阵探测器拓扑结构、红外相机扫描系统设计的重要依据。

公开(公告)号：CN106408553B

公开(公告)日：2019-10-22

申请号：CN201510452754.5

申请日：2015-07-29

Applicant: 北京空间飞行器总体设计部

Inventor： 金丽花 ,  和涛 ,  伊成俊 ,  关琦

IPC: G06T7/00

Abstract: 本发明提供了一种斜扫的红外线阵探测器的目标响应分析方法，给出了以点源目标在像平面的位置中心、TDI探测器像元在积分起始时刻的位置、TDI探测器拓扑结构、TDI级数、采样间隔、垂直扫描方向与探测器线列方向的夹角为变量的目标响应表达式。因此，使用本发明的方法，可定量分析复杂拓扑结构的红外线阵扫描TDI探测器在任意方向扫描时的目标响应，能够以用户感兴趣的参数作为变量进行典型目标响应的分析，作为优化红外线阵探测器拓扑结构、红外相机扫描系统设计的重要依据。