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公开(公告)号：CN108008206A
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201711224841.0
申请日：2017-11-29
Applicant: 北京无线电测量研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开一种近场天线发射单元级测量系统，包括：主控机，用于发送初始化命令；采样架控制器，根据初始化命令控制采样架的运行；波控机，用于数据采集；所述测量系统还包括同步控制器，该同步控制器用于实现采样架控制器和波控机同步。在本发明的系统中，能够避免时间过长导致的环境温差过大使得测量误差较大的问题，从而提高了测试进度和近场测试效率，并且，本发明在现有技术的基础上不需要进行校准环节，大大节约了测量成本和人工成本。
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