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公开(公告)号:CN102593352A
公开(公告)日:2012-07-18
申请号:CN201210041447.4
申请日:2012-02-21
Applicant: 北京大学
IPC: H01L45/00
CPC classification number: H01L45/04 , G11C13/0007 , G11C2013/0073 , G11C2213/15 , H01L45/1233 , H01L45/146 , H01L45/1633
Abstract: 本发明公开了一种阻变存储器的制备方法,其包括如下步骤:在衬底上制备底电极;然后采用干氧氧化或湿氧氧化对底电极金属进行部分氧化,形成厚度为3nm-50nm的金属氧化物,作为阻变材料层;最后在上述阻变材料层上制备顶电极。本发明避免了传统方法中淀积阻变材料层的步骤,大幅降低了工艺复杂度。同时可以实现阻变材料层与底电极的自对准。保证器件之间的完全隔离。避免了传统工艺方法产生的众多寄生效应。同时保证了器件的实际面积与设计面积一致。