一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法

    公开(公告)号:CN110311740B

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN201910495940.5

    申请日:2019-06-10

    Abstract: 本发明涉及一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法,其步骤:设置包括信号截断模块、1bit量化模块、1bit相关运算模块和硬判决模块的相位检测模块和相位校正模块;射频捷变收发器0、1的接收机将接收到经过功分器回送回来的TX_0信号进行数字化分别得到I路和Q路数字信号,选取I路信号作为待检测数字信号;待检测数字信号进入信号截断模块进行截取处理,得到点数长度为L点的数字信号,经1bit量化模块后进入1bit相关运算模块内,得到判决值输入硬判决模块,确定待检测数字信号的相位关系,并发送给相位校正模块,相位校正模块向基带信号生成模块发送校正使能信号,完成相位模糊检测校正。

    一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法

    公开(公告)号:CN110311740A

    公开(公告)日:2019-10-08

    申请号:CN201910495940.5

    申请日:2019-06-10

    Abstract: 本发明涉及一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法,其步骤:设置包括信号截断模块、1bit量化模块、1bit相关运算模块和硬判决模块的相位检测模块和相位校正模块;射频捷变收发器0、1的接收机将接收到经过功分器回送回来的TX_0信号进行数字化分别得到I路和Q路数字信号,选取I路信号作为待检测数字信号;待检测数字信号进入信号截断模块进行截取处理,得到点数长度为L点的数字信号,经1bit量化模块后进入1bit相关运算模块内,得到判决值输入硬判决模块,确定待检测数字信号的相位关系,并发送给相位校正模块,相位校正模块向基带信号生成模块发送校正使能信号,完成相位模糊检测校正。

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