公开(公告)号：CN102098432A

公开(公告)日：2011-06-15

申请号：CN201010592190.2

申请日：2010-12-13

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 山田英一郎 ,  菅沼宽 ,  小林勇仁

IPC: H04N5/225 ,  G02B5/08

CPC classification number: H04N5/235 ,  H04N5/2254 ,  H04N5/2256 ,  H04N5/361

Abstract: 本发明提供了一种成像设备，即使照明光的强度随时间变化，该成像设备也能够以高精度获得物体的图像。成像设备(1)包括光源单元(10)、透镜(21)、半透明反射镜(22)、透镜(23)、液晶可调滤光器(24)、透镜(25)、参考反射镜(31)、参考反射镜(32)、摄像单元(40)、运算单元(50)和显示单元(60)。参考反射镜(31)和(32)设置在被由用于发射光的光学系统引导的照明光照射并且位于摄像单元(40)的视场的一部分内的位置处。运算单元(50)通过使用由摄像单元(40)拍摄的图像中参考反射镜(31)和(32)的图像部分的值，校正物体(2)的图像部分的值。

公开(公告)号：CN1065929A

公开(公告)日：1992-11-04

申请号：CN92102565.3

申请日：1992-04-11

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 井上享 ,  小林勇仁 ,  篠木秀次

IPC: G01B11/06

Abstract: 本发明以平行光照射涂层光纤的侧面，用带有聚光透镜和针孔的图象传感器检测被树脂部分的外表面反射到一个特定方向的光束及被树脂部分和玻璃部分之间界面而反射到与该特定方向平行的方向上的光束。测量出表面反射光束和界面反射光束的间距d2及对应这些反射光束的入射光束间距d1。根据这样测定的d1和d2来估计涂层状态。

公开(公告)号：CN102098432B

公开(公告)日：2015-10-07

申请号：CN201010592190.2

申请日：2010-12-13

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 山田英一郎 ,  菅沼宽 ,  小林勇仁

IPC: H04N5/225 ,  G02B5/08

CPC classification number: H04N5/235 ,  H04N5/2254 ,  H04N5/2256 ,  H04N5/361

Abstract: 本发明提供了一种成像设备，即使照明光的强度随时间变化，该成像设备也能够以高精度获得物体的图像。成像设备(1)包括光源单元(10)、透镜(21)、半透明反射镜(22)、透镜(23)、液晶可调滤光器(24)、透镜(25)、参考反射镜(31)、参考反射镜(32)、摄像单元(40)、运算单元(50)和显示单元(60)。参考反射镜(31)和(32)设置在被由用于发射光的光学系统引导的照明光照射并且位于摄像单元(40)的视场的一部分内的位置处。运算单元(50)通过使用由摄像单元(40)拍摄的图像中参考反射镜(31)和(32)的图像部分的值，校正物体(2)的图像部分的值。

公开(公告)号：CN1031959C

公开(公告)日：1996-06-05

申请号：CN92102565.3

申请日：1992-04-11

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 井上享 ,  小林勇仁 ,  筱木秀次

IPC: G01B11/06

Abstract: 本发明以平行光照射涂层光纤的侧面，用带有聚光透镜和针孔的图象传感器检测被树脂部分的外表面反射到一个特定方向的光束及被树脂部分和玻璃部分之间界面而反射到与该特定方向平行的方向上的光束。测量出表面反射光束和界面反射光束的间距d2及对应这些反射光束的入射光束间距d1。根据这样测定的d1和d2来估计涂层状态。