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公开(公告)号:CN119665878A
公开(公告)日:2025-03-21
申请号:CN202411806369.1
申请日:2024-12-10
Applicant: 中核控制系统工程有限公司 , 核电运行研究(上海)有限公司 , 中核核电运行管理有限公司
Abstract: 本发明公开一种铀层厚度均匀性测算方法,涉及核物理探测技术领域,通过测量电极表面铀层整体先通过半导体探测器测量电极表面整体和被测单元的α粒子发射率,再通过计算即可获得电极表面的铀层厚度均匀性,整个测试过程中半导体探测器不与电极接触,不会破坏铀层,半导体探测器的精度高、测量结果准确,铀层厚度均匀性偏差系数的计算结果能反映出铀层厚度均匀性。本发明还提供一种铀层厚度均匀性测量装置,应用于上述铀层厚度均匀性测算方法,可以在无接触的情况下对铀层释放出的α粒子进行测量,直接获得α粒子发射率,为铀层厚度均匀性偏差系数提供数据。
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公开(公告)号:CN222280846U
公开(公告)日:2024-12-31
申请号:CN202420608585.4
申请日:2024-03-27
Applicant: 中核控制系统工程有限公司
IPC: G01T3/00
Abstract: 本实用新型公开了一种中子探测器,涉及辐射探测技术领域,包括探测主体以及信号引出结构,探测主体包括至少两个中子正比计数管及至少两个连接器,各中子正比计数管与各连接器交替串联,置于相邻的两个中子正比计数管之间的连接器能够将相邻的两个中子正比计数管密封固定连接且信号连接,置于探测主体的第一端的连接器用于将置于探测主体的第一端的中子正比计数管与信号引出结构密封固定连接且信号连接;本实用新型公开的中子探测器能够有效地提高中子灵敏度。
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