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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112484906A
公开(公告)日：2021-03-12
申请号：CN202011422516.7
申请日：2020-12-04
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种气体压力光学测量温度补偿方法，属于计量测试技术领域。本发明的利用吸收光谱法中的双谱线法实时测量精确的气体温度值，在带入光学折射率法气体压力测量模型中，实现对其压力测量的温度修正。本发明能够实时补偿气体压力光学测量中温度变化对测量结果的影响，提高压力的测量精度。
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公开(公告)号：CN112484905B
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202011411248.9
申请日：2020-12-04
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种变温环境下高精度压力光学测量方法，属于计量测试技术领域。本发明通过结合折射率法和吸收光谱法中的直接吸收法两种光学气体压力测量方法模型，通过联系两个模型方程，消除未知的温度变量，实时求解被测气体的精确压力值。此发明能够在变温环境下实时消除温度变化对压力测量结果的影响，提高了压力的测量精度。
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公开(公告)号：CN112484783B
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202011415136.0
申请日：2020-12-04
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于光学的气体压力温度高精度同步测量方法，属于计量测试技术领域。本发明通过融合折射率法和吸收光谱法中的波长调制法两种光学压力和温度测量方法模型，结合了基于折射率的气体压力测量方法精度高，和基于分子吸收光谱的气体压力测量方法蕴含信息丰富的特点，实现了气体压力和温度分离和同步精确测量。
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公开(公告)号：CN112484905A
公开(公告)日：2021-03-12
申请号：CN202011411248.9
申请日：2020-12-04
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种变温环境下高精度压力光学测量方法，属于计量测试技术领域。本发明通过结合折射率法和吸收光谱法中的直接吸收法两种光学气体压力测量方法模型，通过联系两个模型方程，消除未知的温度变量，实时求解被测气体的精确压力值。此发明能够在变温环境下实时消除温度变化对压力测量结果的影响，提高了压力的测量精度。
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公开(公告)号：CN112484783A
公开(公告)日：2021-03-12
申请号：CN202011415136.0
申请日：2020-12-04
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于光学的气体压力温度高精度同步测量方法，属于计量测试技术领域。本发明通过融合折射率法和吸收光谱法中的波长调制法两种光学压力和温度测量方法模型，结合了基于折射率的气体压力测量方法精度高，和基于分子吸收光谱的气体压力测量方法蕴含信息丰富的特点，实现了气体压力和温度分离和同步精确测量。
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