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发明公开
中红外波段半导体激光器性能测量表征系统无效

公开(公告)号：CN1358986A

公开(公告)日：2002-07-17

申请号：CN01132286.1

申请日：2001-11-23

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 张永刚 , 南矿军 , 李爱珍

IPC: G01J3/28 , G01J3/443 , G01R31/26

Abstract: 本发明涉及一种中红外波段半导体激光器性能测量表征系统,属于半导体测试技术领域。其特征是该硬件部分由5个部分组成,分别是傅里叶变换光谱仪并引入双调制技术的激射谱测量系统;基于宽范围脉冲信号发生器的驱动系统;基于数字示波器电流探头及中红外探测器的测量监控系统;基于通用平行接口卡的计算机控制系统;热沉致冷器和温度控制系统;软件部分的编程软件为CEC公司的TESTPOINT,并采用面向对象的编程方式。除具有测量器件的I－P,I－V特性和激射光谱特性的功能外,还可以宽范围地改变驱动脉冲参数对器件的输出特性以及热特性进行测量分析,并可采用可调步长在宽范围内对器件进行连续测量。

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