延时测试电路及延时测试方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116413586A

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202111670510.6

    申请日:2021-12-31

    Abstract: 本发明提供一种延时测试电路,至少包括环振电路延时测试模块,该模块包括汇流器单元、分路器单元、第一接口单元、N个待测单元及M个第一分频器单元;N个待测单元级联,第一个待测单元的输入端连接汇流器单元的输出端,最后一个待测单元的输出端连接分路器单元的输入端;M个第一分频器单元级联,第一个第一分频器单元的输入端连接分路器单元的一路输出端,最后一个第一分频器单元的输出端连接第一接口单元的输入端;汇流器单元的第一输入端接入第一激励信号,第二输入端连接分路器单元的二路输出端;第一接口单元的输出端产生第一数字电压信号。通过本发明提供的延时测试电路,解决了现有方案无法对超过2个结的传输线进行有效延时测试的问题。

Patent Agency Ranking