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公开(公告)号：CN104006951B
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：CN201410263634.6
申请日：2014-06-16
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所 , 中国工程物理研究院计量测试中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了激光能量计校准用大功率卤钨灯辐射效率测量系统及测量方法，所述测量系统含有校准用大功率卤钨灯、光辐射测量装置、小功率标准卤钨灯、电能计、电流通断控制装置。所述测量方法包括：(a)、构建一个光辐射测量装置；(b)、将小功率标准卤钨灯送法定计量单位校准；(c)、利用小功率标准卤钨灯对光辐射测量装置校准，测量小功率标准卤钨灯的辐射功率；(d)、利用时间继电器和交流接触器设置校准用大功率卤钨灯的通电时间；(e)、测量大功率卤钨灯的辐射强度和消耗的电能；(f)、计算出通电时间内大功率卤钨灯辐射效率；(g)设定不同的通电时间，重复步骤(e)和(f)。本发明精确高，为激光能量计的精确校准奠定了基础。
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公开(公告)号：CN104006878B
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201410263492.3
申请日：2014-06-16
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所 , 中国工程物理研究院计量测试中心
IPC: G01J1/00
Abstract: 本发明提供了一种激光能量计校准用大功率卤钨灯残余能量辐射效率测量系统及测量方法，所述的测量系统含有校准用大功率卤钨灯、卤钨灯固定支架、温控箱、宽光谱型功率计、电能计、时间继电器、交流接触器。所述的测量方法包括以下步骤：(a)、测量实际校准时的环境温度；(b)、完成测量系统的布局；(c)、将温控箱的温度调整为校准时的环境温度；(d)、测量卤钨灯断电后的功率和卤钨灯上消耗的电能E；(e)、利用几何关系及功率能量关系计算出某时刻的辐射效率；(f)、计算不同时刻大功率卤钨灯残余能量辐射效率变化曲线；(g)、设定不同的通电时间，重复步骤(c)~(f)。本发明测量精确高，为激光能量计的精确校准奠定了基础。
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公开(公告)号：CN104006878A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410263492.3
申请日：2014-06-16
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所 , 中国工程物理研究院计量测试中心
IPC: G01J1/00
Abstract: 本发明提供了一种激光能量计校准用大功率卤钨灯残余能量辐射效率测量系统及测量方法，所述的测量系统含有校准用大功率卤钨灯、卤钨灯固定支架、温控箱、宽光谱型功率计、电能计、时间继电器、交流接触器。所述的测量方法包括以下步骤：(a)、测量实际校准时的环境温度；(b)、完成测量系统的布局；(c)、将温控箱的温度调整为校准时的环境温度；(d)、测量卤钨灯断电后的功率和卤钨灯上消耗的电能E；(e)、利用几何关系及功率能量关系计算出某时刻的辐射效率；(f)、计算不同时刻大功率卤钨灯残余能量辐射效率变化曲线；(g)、设定不同的通电时间，重复步骤(c)~(f)。本发明测量精确高，为激光能量计的精确校准奠定了基础。
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公开(公告)号：CN104006951A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410263634.6
申请日：2014-06-16
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所 , 中国工程物理研究院计量测试中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了激光能量计校准用大功率卤钨灯辐射效率测量系统及测量方法，所述测量系统含有校准用大功率卤钨灯、光辐射测量装置、小功率标准卤钨灯、电能计、电流通断控制装置。所述测量方法包括：(a)构建一个光辐射测量装置；(b)将小功率标准卤钨灯送法定计量单位校准；(c)利用小功率标准卤钨灯对光辐射测量装置校准，测量小功率标准卤钨灯的辐射功率；(d)利用时间继电器和交流接触器设置校准用大功率卤钨灯的通电时间；(e)测量大功率卤钨灯的辐射强度和消耗的电能；(f)计算出通电时间内大功率卤钨灯辐射效率；(g)设定不同的通电时间，重复步骤(e)和(f)。本发明精确高，为激光能量计的精确校准奠定了基础。
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公开(公告)号：CN108871559B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201810767895.X
申请日：2018-07-13
Applicant: 中国工程物理研究院计量测试中心
IPC: G01J1/02
Abstract: 本发明公开一种光束质量β因子测量系统的校准方法，该校准方法使用的仪器包括平行光管、标准像差板和光束质量β因子测量系统，必要时还需要孔径光阑。本发明提供该校准方法的校准原理，以及具体的校准方法，可以获得光束质量β因子测量系统的校准系数，进而保障光束质量β因子测量系统的量值准确、可靠，解决高能激光光束质量β因子的准确评估问题，为今后相应光束质量β因子测量系统的量值准确可靠提供技术依据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108593591A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201810383536.4
申请日：2018-04-26
Applicant: 中国工程物理研究院计量测试中心
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本发明公开一种太赫兹时域光谱系统的光谱透反比标定方法，太赫兹时域光谱系统采用透反比标准器作为计量标准，透反比标准器使用高阻硅材料制作而成，利用透反比标准器对太赫兹时域光谱系统光谱透射比或光谱反射比标定，采用菲涅耳公式作为测量模型将其量值溯源至材料的折射率和吸收系数，测量误差可控制在±1%以内，该方法为太赫兹时域光谱系统的量值溯源和准确度评估提供了技术依据。
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公开(公告)号：CN108398780A
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201810383515.2
申请日：2018-04-26
Applicant: 中国工程物理研究院计量测试中心
IPC: G02B26/10
CPC classification number: G02B26/105
Abstract: 本发明公开一种高速光学延迟线，包括线性电动位移台、移动直角反射镜组、固定直角反射镜组，其中，移动直角反射镜组固定在线性电动位移台的滑动台面上，固定直角反射镜组固定不动。移动直角反射镜组和固定直角反射镜组中直角反射镜的对数可以相同，也可以不同，具体数目可根据系统光路结构和光学扫描延迟要求设定。该高速光学延迟线，能够在线性电动位移台较低的移动速度和较小的行程下，实现较高的扫描速度和较大的扫描范围。
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公开(公告)号：CN108871559A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810767895.X
申请日：2018-07-13
Applicant: 中国工程物理研究院计量测试中心
IPC: G01J1/02
Abstract: 本发明公开一种光束质量β因子测量系统的校准方法，该校准方法使用的仪器包括平行光管、标准像差板和光束质量β因子测量系统，必要时还需要孔径光阑。本发明提供该校准方法的校准原理，以及具体的校准方法，可以获得光束质量β因子测量系统的校准系数，进而保障光束质量β因子测量系统的量值准确、可靠，解决高能激光光束质量β因子的准确评估问题，为今后相应光束质量β因子测量系统的量值准确可靠提供技术依据。
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公开(公告)号：CN108844913A
公开(公告)日：2018-11-20
申请号：CN201810383530.7
申请日：2018-04-26
Applicant: 中国工程物理研究院计量测试中心
IPC: G01N21/3586 , G01J3/433
Abstract: 本发明公开一种太赫兹时域光谱系统，包括飞秒激光器、斩波器、M1分束镜、THz发射器、H1抛物面镜、N1反射镜、N2反射镜、H2抛物面镜、M2分束镜、延迟模块、Q1 THz探测器、THz分束镜、H3抛物面镜、Q2 THz探测器、锁相放大器和计算机，延迟模块与计算机之间、斩波器与锁相放大器之间、Q1 THz探测器与锁相放大器之间、Q2 THz探测器与锁相放大器之间、锁相放大器与计算机之间采用数据线连接，其余部分为光路部分，采用自由空间传输或光纤耦合传输。通过设计同步测量背景信号和样品信号的光路，使得太赫兹背景信号能够真实反映样品测试过程中的背景波动情况，消除测量过程中背景信号波动对测量结果的影响。
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公开(公告)号：CN208224601U
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201820605648.5
申请日：2018-04-26
Applicant: 中国工程物理研究院计量测试中心
IPC: G02B26/10
Abstract: 本实用新型公开一种高速光学延迟线，包括线性电动位移台、移动直角反射镜组、固定直角反射镜组，其中，移动直角反射镜组固定在线性电动位移台的滑动台面上，固定直角反射镜组固定不动，移动直角反射镜组和固定直角反射镜组中直角反射镜的对数可以相同，也可以不同，具体数目可根据系统光路结构和光学扫描延迟要求设定。该高速光学延迟线，能够在线性电动位移台较低的移动速度和较小的行程下，实现较高的扫描速度和较大的扫描范围。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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