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公开(公告)号：CN115828601A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211566604.3
申请日：2022-12-07
Applicant: 东南大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明公开了一种基于半定松弛的超表面阵列天线方向图优化方法。首先从阵列天线的阵因子公式出发，根据预期需求建立原始优化问题模型；然后对阵列激励矢量的每一个复数元素进行虚实分离，将原始问题进行等价转换；接着舍去原问题中的一个非凸约束，得到一个凸的半正定松弛问题，其有最优解；最后分情况讨论，当最优解的秩为1时，最优解即为原问题的最优解，当最优解的秩不为1时，通过特征值分解来得到原始问题的可行解，从而求解出满足预期需求的阵列的幅度和相位信息。本发明能够根据指定的阵列远场方向图快速求解出阵列阵元的激励矢量，经过后续的全波仿真和实验测试，证明了所提优化方法的有效性。
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