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公开(公告)号：CN112649499B
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN201910968120.3
申请日：2019-10-12
Applicant: 上海宝信软件股份有限公司
Abstract: 本发明提供了一种适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法及系统，包括：超声波A扫数据获取步骤：采集目标结构上设定位置的超声波A扫数据，获取按时间采样序列值信息；最大值序列获取步骤：根据按时间采样序列值信息，获取时间采样最大值序列信息；二维矩阵获取步骤：根据时间采样最大值序列信息，获取时间采样最大值序列二维矩阵信息；检测信号聚合显示步骤：根据时间采样最大值序列二维矩阵信息，获取检测信号聚合显示结果信息；缺陷显示步骤：根据检测信号聚合显示结果信息，获取缺陷位置分布信息。使用本发明，在数值处理中采用了最大值保留方法，最终显示结果中保留了所有最大值缺陷信息，不会造成漏检。
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公开(公告)号：CN111752491A
公开(公告)日：2020-10-09
申请号：CN201910231950.8
申请日：2019-03-26
Applicant: 上海宝信软件股份有限公司
IPC: G06F3/12 , G06F11/10 , B41M5/00 , B41J29/393
Abstract: 本发明提供了一种多功能点阵标记应用系统和方法，上位机读取混排图片，对混排图片进行点阵解析，得到点阵原生数据代码并发送至下位控制器；下位控制器接收点阵原生数据代码，对点阵原生数据代码进行点阵还原，得到输出点阵；标记执行辅助点阵原生数据代码进行点阵还原，并将输出点阵以喷印或针式打印的方式进行输出。本发明采用上位机的系统资源和字库资源，对涉及多语种的图片及字体进行快速点阵解析；采用原生数据编码方式，并加入循环冗余校验及数据纠错，提高通信传输的稳定性；同时兼容喷枪、针式打标两种方式，具有较好的通用性和电气兼容性。
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公开(公告)号：CN112649499A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201910968120.3
申请日：2019-10-12
Applicant: 上海宝信软件股份有限公司
Abstract: 本发明提供了一种适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法及系统，包括：超声波A扫数据获取步骤：采集目标结构上设定位置的超声波A扫数据，获取按时间采样序列值信息；最大值序列获取步骤：根据按时间采样序列值信息，获取时间采样最大值序列信息；二维矩阵获取步骤：根据时间采样最大值序列信息，获取时间采样最大值序列二维矩阵信息；检测信号聚合显示步骤：根据时间采样最大值序列二维矩阵信息，获取检测信号聚合显示结果信息；缺陷显示步骤：根据检测信号聚合显示结果信息，获取缺陷位置分布信息。使用本发明，在数值处理中采用了最大值保留方法，最终显示结果中保留了所有最大值缺陷信息，不会造成漏检。
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公开(公告)号：CN118856270A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202311415212.1
申请日：2023-10-27
Applicant: 上海宝信软件股份有限公司 , 清华大学
IPC: F21V5/04 , F21V5/08 , F21V23/00 , F21Y115/10
Abstract: 本发明提供了一种检测用LED线性散光光源及其制造方法，包括散热型材、两片侧板、透明顶盖、第一端盖、第二端盖、LED电路板、光学薄膜以及透明圆棒组，两片侧板分别设置在散热型材顶部的两侧，第一端盖与第二端盖分别固定在散热型材的两端；LED电路板设置在散热型材顶部，透明圆棒组固定于LED电路板的上方，透明圆棒组的上方设置有透明顶盖，透明顶盖的两侧压紧于两片侧板的顶部，光学薄膜设置在透明圆棒组与透明顶盖之间；LED电路板射出的光线依次通过透明圆棒组、光学薄膜以及透明顶盖出射。本发明采用多透镜进行配光，提高了LED出光利用率的同时实现光线散射，同时采用光学薄膜使光源横向光线小角度发散来保证光强，纵向大角度发散来保证打光宽幅。
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