公开(公告)号：CN116762372A

公开(公告)日：2023-09-15

申请号：CN202280009486.8

申请日：2022-01-05

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 任炳宰 ,  金晋民 ,  金镇星 ,  俞政坤 ,  尹相一 ,  赵延淏

IPC: H04W4/12

Abstract: 本发明的各种实施例涉及用于使电子装置通过可穿戴装置处理消息的装置和方法。所述电子装置可以包括第一通信电路、第二通信电路以及可操作地连接到第一通信电路和第二通信电路的至少一个处理器，其中，所述处理器可以通过第二通信电路与可穿戴装置建立通信，可以通过第一通信电路从外部装置接收基于IP多媒体子系统(IMS)的消息，可以通过解码基于IMS的消息来检测与基于IMS的消息的内容相对应的至少一部分，并且可以通过第二通信电路向可穿戴装置发送与基于IMS的消息的内容相对应的至少一部分。其他实施例也是可能的。

公开(公告)号：CN110726914A

公开(公告)日：2020-01-24

申请号：CN201910567341.X

申请日：2019-06-27

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李喆民 ,  高泰景 ,  金镇星 ,  孙亨坤 ,  洪升佑 ,  李东具 ,  李祥载

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种用于半导体器件的测试方法和测试系统。所述测试方法包括：将测试托盘加载到测试室中，所述测试托盘具有布置在其上的第一批次和第二批次的半导体器件；存储第一批次和第二批次的半导体器件中的每一个的批次信息；对第一批次和第二批次的半导体器件中的每一个执行测试程序；获得第一批次和第二批次的半导体器件中的每一个的ID信息；将所述ID信息与所述批次信息进行匹配以生成批次分类信息；以及基于所述测试程序的结果和所述批次分类信息对第一批次和第二批次的半导体器件进行分类。