公开(公告)号：CN104460057A

公开(公告)日：2015-03-25

申请号：CN201410361615.7

申请日：2014-07-25

Applicant: 三星显示有限公司 ,  三星电子株式会社 ,  全北大学校产学协力团

Inventor： 催硕 ,  具成谋 ,  卢泳辰 ,  金榕元 ,  柳彰贤 ,  郑治连 ,  李升熙 ,  崔永恩

IPC: G02F1/13

Abstract: 本发明提供了一种用于检测基板的缺陷的检查设备和液晶调制器。该检查设备包括液晶调制器、发光单元、分束器和测量单元。液晶调制器包括反射层、液晶层、电极和偏振器。反射层反射光。感应层包括混合排列向列相液晶。电极设置在液晶层上。偏振器设置在电极上。

公开(公告)号：CN102419500A

公开(公告)日：2012-04-18

申请号：CN201110313203.2

申请日：2011-09-27

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金熙燮 ,  权五正 ,  朴宰弘 ,  李赫珍 ,  尹晟在 ,  催硕

IPC: G02F1/1362 ,  G02F1/1368

CPC classification number: G02F1/1393 ,  G02F1/133707

Abstract: 本发明公开一种液晶显示器。该液晶显示器包括第一基板、第一像素电极、第二像素电极、第二基板以及液晶层。第一像素电极形成在第一基板上。第二像素电极与第一像素电极的至少一部分交叠，第一绝缘层插置在其间。第二像素电极具有多个延长的开口并向液晶层施加电压，该电压不同于第一像素电极施加到液晶层的电压。

公开(公告)号：CN104678611A

公开(公告)日：2015-06-03

申请号：CN201410462901.2

申请日：2014-09-12

Applicant: 三星显示有限公司 ,  三星电子株式会社

Inventor： 具成谋 ,  催硕 ,  卢泳辰 ,  金榕元 ,  柳彰贤 ,  郑治连

IPC: G02F1/13 ,  G02F1/1334

CPC classification number: G02F1/1313 ,  G02F1/1309 ,  G02F1/1334 ,  G02F1/133553 ,  G02F2001/133368 ,  G02F2001/13345

Abstract: 本发明公开了一种基板检查设备及一种基板检查设备的液晶调制器的制造方法。该基板检查设备包括：液晶调制器，被构造为设置在所述基板上；光源单元，设置为与液晶调制器分隔开；分束器，设置在液晶调制器与光源单元之间，并且被构造为将来自光源单元的光束反射至液晶调制器；测量单元，被构造为感测由基板反射的光束。