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公开(公告)号：CN1085574C
公开(公告)日：2002-05-29
申请号：CN96108494.4
申请日：1996-04-26
Abstract: 在通过反馈由加工后测定的测定仪器16获得的测定值X确定校正定尺寸装置14中的定尺寸点校正值U的反馈式加工条件校正装置中，将控制装置(20)与优先考虑校正速度、根据少数的测定值X确定校正值U的积分控制IC和优先考虑校正精度、根据多数的测定值X确定校正值U的模糊控制FC并用，在要求校正迅速性能期间将积分控制IC的校正值U传送给定尺寸装置14，在要求校正精度期间将模糊控制FC的校正值转送给定尺寸装置(14)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1080880C
公开(公告)日：2002-03-13
申请号：CN96110683.2
申请日：1996-07-19
IPC: G01M3/26
Abstract: 本发明提供一种压力泄漏测定方法。有压力泄漏的被测工件的从时刻t0到t1的压差曲线(虚线)是在ΔP0的曲线上加上困压力泄漏引起的压差ΔP而得到的，压差ΔP的每单位时间变化量是一定的。因此，若从图1的虚线减去实线，则可求出因压力泄漏引起的压差ΔP的时效变化，该压差ΔP在从时刻t0到t1之间也线性变化。所以，即使在时刻t0到t1之间，也能从压差ΔP的每单位时间变化量算出压力泄漏的大小。
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公开(公告)号：CN1152122A
公开(公告)日：1997-06-18
申请号：CN96110683.2
申请日：1996-07-19
IPC: G01M15/00
Abstract: 本发明提供一种压力泄漏测定方法。有压力泄漏的被测工件的从时刻t0到t1的压差曲线(虚线)是在△P0的曲线上加上因压力泄漏引起的压差△P而得到的，压差△P的每单位时间变化量是一定的。因此，若从图1的虚线减去实线，则可求出因压力泄漏引起的压差△P的时效变化，该压差△P在从时刻t0到t1之间也线性变化。所以，即使在时刻t0到t1之间，也能从压差△P的每单位时间变化量算出压力泄漏的大小。
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公开(公告)号：CN1080879C
公开(公告)日：2002-03-13
申请号：CN96102299.X
申请日：1996-06-13
IPC: G01M3/26
Abstract: 本发明提供一种压力泄漏的测定方法，该点MP4不管有没有被测工件产生的压力泄漏，都能作为压差的单位时间平均变化量为定值的点，也就是压差的测量值所描画的曲线的二次微分值为零的点而求出.当判定已到达点MP4时，则从该时点开始采用压差测量值的单位时间平均变化量可计算出被测工件的压力泄漏量。由于准确地求出压力稳定的时点，所以可以缩短测定时间。
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公开(公告)号：CN1142423A
公开(公告)日：1997-02-12
申请号：CN96108494.4
申请日：1996-04-26
Abstract: 在通过反馈由加工后测定的测定仪器16获得的测定值X确定校正定尺寸装置14中的定尺寸点校正值U的反馈式加工条件校正装置中，将控制装置(20)与优先考虑校正速度、根据少数的测定值X确定校正值U的积分控制IC和优先考虑校正精度、根据多数的测定值X确定校正值U的模糊控制FC并用，在要求校正迅速性能期间将积分控制IC的校正值U传送给定尺寸装置14，在要求校正精度期间将模糊控制FC的校正值转送给定尺寸装置(14)。
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公开(公告)号：CN1140837A
公开(公告)日：1997-01-22
申请号：CN96102299.X
申请日：1996-06-13
Abstract: 本发明提供一种压力泄漏的测定方法，该点MP4不管有没有被测工件产生的压力泄漏，都能作为压差的单位时间平均变化量为定值的点，也就是压差的测量值所描画的曲线的二次微分值为零的点而求出。当判定已到达MP4时，则从该时点开始采用压差测量值的单位时间平均变化量可计算出被测工件的压力泄漏量。由于准确地求出压力稳定的时点，所以可以缩短测定时间。
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