发明授权
- 专利标题： Measurement protocol for a medical technology apparatus
- 专利标题（中）： 一种医疗技术装置的测量方案
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申请号： US12971338申请日： 2010-12-17
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公开(公告)号： US08712714B2公开(公告)日： 2014-04-29
- 发明人: Wilhelm Horger , Andre De Oliveira
- 申请人： Wilhelm Horger , Andre De Oliveira
- 申请人地址： DE
- 专利权人： Siemens Aktiengesellschaft
- 当前专利权人： Siemens Aktiengesellschaft
- 当前专利权人地址： DE
- 代理机构： Schiff Hardin LLP
- 优先权： DE102009054990 20091218
- 主分类号： G01C19/00
- IPC分类号： G01C19/00
摘要：
In a method and a computer-readable storage medium to optimize protocol parameters for an MR measurement protocol, the user can configure conditions for selected physical parameters in advance. Moreover, it is possible to configure rules for these parameters and/or for the conditions. In a next step physical values regarding the selected parameters are measured. The measured values are then applied to the configured conditions and/or rules in order to optimize the protocol parameters.
公开/授权文献
- US20110153255A1 MEASUREMENT PROTOCOL FOR A MEDICAL TECHNOLOGY APPARATUS 公开/授权日：2011-06-23
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