Utility Model
CN201532369U 一种小型背散射X射线检查装置
失效 - 放弃
- Patent Title: 一种小型背散射X射线检查装置
- Patent Title (English): Small backscattering X-ray examination device
-
Application No.: CN200920174473.8Application Date: 2009-11-17
-
Publication No.: CN201532369UPublication Date: 2010-07-21
- Inventor: 陈惠民 , 陈学亮 , 梁泽 , 陈力 , 崔玉华 , 肖广安 , 李晓莉 , 王建荣 , 邢羽 , 董国平 , 苗祥月
- Applicant: 公安部第一研究所 , 北京中盾安民分析技术有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区首都体育馆南路1号
- Assignee: 公安部第一研究所,北京中盾安民分析技术有限公司
- Current Assignee: 公安部第一研究所,北京中盾安民分析技术有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区首都体育馆南路1号
- Agency: 北京中海智圣知识产权代理有限公司
- Agent 王冬华
- Main IPC: G01N23/203
- IPC: G01N23/203

Abstract:
本实用新型公开了一种小型背散射X射线检查装置,包括:中央控制与处理单元,分别与中央控制与处理单元连接的斩波轮控制器、X射线源控制器、主计算机、射线屏蔽门控制器、系统控制键盘、扫描速度显示器、背散射信号预放器、射线警示装置、安全连锁开关以及温控模块。中央控制与处理单元包括网络模块、数字信号处理电路、系统控制电路、安全连锁逻辑电路、低压电源模块;本实用新型具有透射能力强、最大检测距离长、扫描速度快、图像清晰度和图像分辨率高、射线泄漏剂量率低等特点。
Information query