发明授权
CN1998091B 硅光电倍增器及硅光电倍增器单元
失效 - 权利终止
- 专利标题: 硅光电倍增器及硅光电倍增器单元
- 专利标题(英): Silicon photomultiplier (variants) and a cell therefor
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申请号: CN200580019248.1申请日: 2005-05-05
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公开(公告)号: CN1998091B公开(公告)日: 2010-09-29
- 发明人: 艾莲娜·V·波波娃 , 谢尔盖·N·克莱曼 , 列昂尼德·A·菲拉托夫
- 申请人: 马普科技促进协会 , 鲍里斯·阿纳托列维奇·多尔戈舍伊恩
- 申请人地址: 德国慕尼黑
- 专利权人: 马普科技促进协会,鲍里斯·阿纳托列维奇·多尔戈舍伊恩
- 当前专利权人: 马普科技促进协会,鲍里斯·阿纳托列维奇·多尔戈舍伊恩
- 当前专利权人地址: 德国慕尼黑
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 蒋世迅
- 优先权: 2004113616 2004.05.05 RU
- 国际申请: PCT/RU2005/000242 2005.05.05
- 国际公布: WO2005/106971 RU 2005.11.10
- 进入国家日期: 2006-12-12
- 主分类号: H01L31/06
- IPC分类号: H01L31/06
摘要:
本发明涉及高效率光发射检测的监测器,并可用于核技术和激光技术,以及用于工业和医学断层摄影术等。硅光电倍增器(实施例1)包括:掺杂剂浓度为1018-1020cm-3的P++导电型基片,并由多个单元构成,每个单元包含掺杂剂浓度在1018-1014cm-3范围内逐渐变化的p导电型外延层,所述外延层生长在基片上;掺杂剂浓度为1015-1017cm-3的p导电型层;掺杂剂浓度为1018-1020cm-3的n+导电型层;多晶硅电阻是在每个单元的二氧化硅层上,所述多晶硅电阻连接n+导电型层与电压分布母线,和分隔元件设置在各个单元之间。硅光电倍增器(实施例2)包括:n-导电型基片;掺杂剂浓度为1018-1020cm-3的P++导电型层,所述导电型层加到基片上,所述倍增器是由多个单元构成,多晶硅电阻是在每个单元的二氧化硅层上,和分隔元件设置在各个单元之间。
公开/授权文献
- CN1998091A 硅光电倍增器(变型)及硅光电倍增器单元 公开/授权日:2007-07-11
IPC分类: