发明授权
- 专利标题： 基于PXI体系的通用微小卫星综合测试平台
- 专利标题（英）： Universal micro-satellite comprehensive testing platform based on PXI system
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申请号： CN200510111492.2申请日： 2005-12-14
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公开(公告)号： CN1982863B公开(公告)日： 2010-07-07
- 发明人: 孙宁 , 余慧亮 , 丁洲
- 申请人： 上海微小卫星工程中心
- 申请人地址： 上海市长宁区长宁路865号
- 专利权人： 上海微小卫星工程中心
- 当前专利权人： 上海微小卫星工程中心
- 当前专利权人地址： 上海市长宁区长宁路865号
- 代理机构： 上海天翔知识产权代理有限公司
- 代理商 陈学雯
- 主分类号： G01M19/00
- IPC分类号： G01M19/00 ; B64G3/00
摘要：
基于PXI体系的通用微小卫星综合测试平台，其特征在于：该测试平台由被测对象、直接测控层、中心控制管理层和终端监控层相互联结组成。本发明提供的测试平台与现有的微小卫星测试平台相比，具有通用性强、自动化和智能化程度高、较强的开发性和灵活性。
公开/授权文献
- CN1982863A 基于PXI体系的通用微小卫星综合测试平台 公开/授权日：2007-06-20
