发明授权
CN1938449B 离子化物理气相沉积(IPVD)工艺
失效 - 权利终止
- 专利标题: 离子化物理气相沉积(IPVD)工艺
- 专利标题(英): Ionized physical vapor deposition(IPVD) process
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申请号: CN200580009861.5申请日: 2005-02-23
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公开(公告)号: CN1938449B公开(公告)日: 2011-01-26
- 发明人: 弗兰克·M·小切里奥 , 雅克·法戈特 , 布鲁斯·D·吉特莱曼 , 罗德尼·L·罗宾森
- 申请人: 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
- 代理商 李剑
- 优先权: 10/811,326 2004.03.26 US
- 国际申请: PCT/US2005/005869 2005.02.23
- 国际公布: WO2005/103321 EN 2005.11.03
- 进入国家日期: 2006-09-26
- 主分类号: C23C14/34
- IPC分类号: C23C14/34
摘要:
设置iPVD系统(200),用于将例如阻挡材料(912)的均一材料沉积在半导体衬底(21)上的高深宽比的纳米尺寸构件(11)中,所采用的工艺在真空室(30)内相对于表面(10)和底部(15)覆盖而增加了侧壁(16)覆盖,而使突悬(14)最小和消除。在低靶功率和>50mT的高压下操作iPVD系统(200),从而由靶溅射材料。将RF能量耦合到处理室中,从而形成高密度等离子体。为了提高覆盖特别是底部覆盖,可施加小RF偏压(仅数伏特)。
公开/授权文献
- CN1938449A 离子化物理气相沉积(IPVD)工艺 公开/授权日:2007-03-28
IPC分类: