• 专利标题: 高速串行接收器的自动眼形图老化测试技术
  • 专利标题(英): Techniques for automatic eye-diagram degradation for testing of a high-speed serial receiver
  • 申请号: CN200480006004.5
    申请日: 2004-02-05
  • 公开(公告)号: CN1757193B
    公开(公告)日: 2010-05-12
  • 发明人: T·塔朗戈T·布利克利
  • 申请人: 英特尔公司
  • 申请人地址: 美国加利福尼亚州
  • 专利权人: 英特尔公司
  • 当前专利权人: 英特尔公司
  • 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
  • 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
  • 代理商 钱慰民
  • 优先权: 10/383,501 2003.03.07 US
  • 国际申请: PCT/US2004/003599 2004.02.05
  • 国际公布: WO2004/082199 EN 2004.09.23
  • 进入国家日期: 2005-09-05
  • 主分类号: H04L1/24
  • IPC分类号: H04L1/24
高速串行接收器的自动眼形图老化测试技术
摘要:
本发明的实施例涉及高速串行接收器的自动老化测试技术。发送控制器耦联串行接口电路的发送器。该发送器耦联串行接口电路的接收器。发送控制器包括存储器,用于储存电流补偿值或阻抗补偿值中的一个,还包括排序逻辑,动态地将电流补偿值或阻抗补偿值中的一个排序至发送器。发送器响应电流补偿值或阻抗补偿值中动态排序的一个而产生老化测试图案信号,发送给接收器,以便测试该接收器。
公开/授权文献
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