发明公开
CN1608310A 超掺杂半导体材料的方法以及超掺杂的半导体材料和器件
失效 - 权利终止
- 专利标题: 超掺杂半导体材料的方法以及超掺杂的半导体材料和器件
- 专利标题(英): Methods of hyperdoping semiconductor materials and hyperdoped semiconductor materials and devices
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申请号: CN02825898.3申请日: 2002-10-22
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公开(公告)号: CN1608310A公开(公告)日: 2005-04-20
- 发明人: 托马斯S·布恩 , 埃里克S·哈蒙 , 罗伯特D·考德尔卡 , 戴维B·萨尔兹曼 , 杰里M·伍德尔
- 申请人: 耶鲁大学
- 申请人地址: 美国康涅狄格州
- 专利权人: 耶鲁大学
- 当前专利权人: 耶鲁大学
- 当前专利权人地址: 美国康涅狄格州
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 樊卫民; 关兆辉
- 优先权: 60/341,051 2001.10.22 US; 60/350,503 2002.01.22 US
- 国际申请: PCT/US2002/033670 2002.10.22
- 国际公布: WO2003/036697 EN 2003.05.01
- 进入国家日期: 2004-06-22
- 主分类号: H01L21/04
- IPC分类号: H01L21/04
摘要:
公开了用于制备重掺杂的半导体材料的方法。使用本发明,可以获得超过常规建立的载流子饱和限度的掺杂密度,同时没有有害的副作用。此外,公开了重掺杂的半导体材料以及使用所述材料的改进的电子和光电器件/部件。本发明革新的材料和工艺限制提高了性能和/或降低了多种半导体基为电子和光电器件/系统的成本。在富阴离子环境中生长的材料,其在优选的实施例中在贫氧环境中生长期间通过中等衬底温度制备。与现有技术相比材料在较高掺杂浓度下显示出较少的非辐射复合中心,并且物质的重掺杂状态显示出在较高的掺杂级别下由辐射复合支配的少数载流子寿命并且与现有技术的材料相比获得了较高的多数载流子浓度。这些新颖材料的重要应用包括高性能的电子或光电器件,其可以更小和更快,但是仍具有俘获或发射光效率,以及高性能电子器件,例如可以更小和更快但更凉爽的晶体管。
公开/授权文献
- CN100359638C 超掺杂半导体材料的方法以及超掺杂的半导体材料和器件 公开/授权日:2008-01-02
IPC分类: