Invention Publication
- Patent Title: 超大规模集成电路的分层电源噪声监视器件和系统
- Patent Title (English): Layered power source noise monitoring device of ultra large scale integrated circuit and system
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Application No.: CN200310121594.3Application Date: 2003-12-29
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Publication No.: CN1514491APublication Date: 2004-07-21
- Inventor: H·H·陈 , L·L-C·许 , B·L·季 , 汪礼康
- Applicant: 国际商业机器公司
- Applicant Address: 美国纽约
- Assignee: 国际商业机器公司
- Current Assignee: 格芯公司
- Current Assignee Address: 美国纽约
- Agency: 北京市中咨律师事务所
- Agent 于静; 李峥
- Priority: 10/334,312 2002.12.31 US
- Main IPC: H01L27/02
- IPC: H01L27/02
Abstract:
本发明提出了一种用于超大规模集成电路的分层电源噪声监视器件。这种噪声监视器件制作在芯片上，用来测量芯片上的噪声。噪声监视系统包括多个分布在芯片上各个关键之处的片上噪声监视器件。用一噪声分析算法根据这些噪声监视器件采集的噪声数据分析噪声特性，而由一分层噪声监视系统将每个内核的噪声映射给片上系统。
Public/Granted literature
- CN100411173C 超大规模集成电路的分层电源噪声监视器件和系统 Public/Granted day:2008-08-13
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IPC分类:
