发明公开

  • 专利标题: 共焦干涉显微镜的背景补偿
  • 专利标题(英): Background compensation for confocal interference microscopy
  • 申请号: CN98802979.0
    申请日: 1998-01-22
  • 公开(公告)号: CN1249810A
    公开(公告)日: 2000-04-05
  • 发明人: 亨利·A·希尔
  • 申请人: 探索研究院
  • 申请人地址: 美国亚利桑那州
  • 专利权人: 探索研究院
  • 当前专利权人: 探索研究院
  • 当前专利权人地址: 美国亚利桑那州
  • 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
  • 代理商 韩宏
  • 优先权: 08/789,885 1997.01.28 US
  • 国际申请: PCT/US1998/01214 1998.01.22
  • 国际公布: WO1998/35204 EN 1998.08.13
  • 进入国家日期: 1999-08-31
  • 主分类号: G01B9/02
  • IPC分类号: G01B9/02
共焦干涉显微镜的背景补偿
摘要:
一个系统在测量在焦像时能把在焦像从离焦像分离出来,从而既减小了系统误差又减小了统计误差。该系统从一个点光源(10)产生一个探测光束(P22B)和一个参考光束(R22B),并在参考光束(R22B)中产生反对称的空间性质。作为把探测光束(P22B)导引成一个在焦像点(28)的结果,产生了一个在焦返回探测光束(P32A),然后在在焦返回探测光束(P32B)中产生反对称的空间性质。使参考光束(R32C)与一个来自一个离焦像点(58)的光束发生干涉,还使参考光束(R32C)与在焦返回光束(P32C)发生干涉。参考光束(R32D)被一个单像素探测器(114)以参考光束(R32D)的振幅的平方的形式探测,在焦返回探测光束(P32D)被探测器(114)以返回参考光束(R32D)与在焦返回探测光束(P32D)之间的一个干涉项的形式探测。离焦像光束(B52D)的振幅被大为减小,结果同时减小了由探测器(114)所产生的数据中的系统误差和统计误差。在所说明的实施例中,来自离焦像点(58)的光束是离焦返回探测光束(B52D)。
公开/授权文献
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