Invention Publication
- Patent Title: 具有地址跳过的微调搜索的存储器内建自测试
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Application No.: CN202280094318.3Application Date: 2022-01-27
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Publication No.: CN118974826APublication Date: 2024-11-15
- Inventor: 尹钟信 , M·凯姆 , C·蒙克 , M·B·塔胡里
- Applicant: 西门子工业软件有限公司
- Applicant Address: 美国德克萨斯州
- Assignee: 西门子工业软件有限公司
- Current Assignee: 西门子工业软件有限公司
- Current Assignee Address: 美国德克萨斯州
- Agency: 华进联合专利商标代理有限公司
- Agent 景怀宇
- International Application: PCT/US2022/013975 2022.01.27
- International Announcement: WO2023/146520 EN 2023.08.03
- Date entered country: 2024-09-26
- Main IPC: G11C29/02
- IPC: G11C29/02 ; G11C11/16
Abstract:
一种由存储器内建自测试系统执行的地址跳过微调搜索，包括：在一个存储器库上执行存储器读取操作，以确定其是否失败于基于用于前一存储器库的参考微调值、正确地感测出存储数据的值；如果当前存储器库失败，则执行存储器读取操作以为所述当前存储器库搜索新的参考微调值；否则，将当前参考微调值视为用于当前存储器库的参考微调值，并继续测试下一个存储器库。搜索新参考微调值的范围可受当前参考微调值的限制。
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