Invention Publication
- Patent Title: 基于零插值正交化分块的ZP-OTFS系统符号并行检测方法
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Application No.: CN202410728542.4Application Date: 2024-06-06
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Publication No.: CN118677570APublication Date: 2024-09-20
- Inventor: 刘伟 , 亢晨阳 , 陈文见
- Applicant: 西安电子科技大学 , 成都亚光电子股份有限公司
- Applicant Address: 陕西省西安市雁塔区太白南路2号;
- Assignee: 西安电子科技大学,成都亚光电子股份有限公司
- Current Assignee: 西安电子科技大学,成都亚光电子股份有限公司
- Current Assignee Address: 陕西省西安市雁塔区太白南路2号;
- Agency: 陕西电子工业专利中心
- Agent 田文英
- Main IPC: H04L1/00
- IPC: H04L1/00 ; H04L1/20 ; H04L27/26

Abstract:
本发明公开了一种基于零插值正交化分块的ZP‑OTFS系统符号并行检测方法,其实现步骤为,发送端构造信道矩阵的图模型,使用广度优先遍历算法和图的最小割算法对图模型分割,将分割后的子图转化为分块矩阵,根据分块矩阵的结构在ZP‑OTFS的发送符号矩阵中插入零符号和数据符号,将发送符号矩阵转换时域信号发送。接收端再次对信道矩阵分块,并对同时对每个正交块进行符号检测。本发明提出的分块检测有着更低的复杂度,极大地缩短了符号检测用时,克服了现有的OTFS分块检测方法的局限性,有着更广泛的使用场景,更有利于OTFS系统在多种多样高移动性场景下的应用。
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