本发明提供一种确定电光晶体的[‑1,1,0]晶轴方向的方法，包括：将待测电光晶体安装在测量基座上，利用太赫兹波和激光同时且共线垂直入射电光晶体切割面；选择电光晶体切割面内的物理参考线，把参考线调整到与激光的偏振方向或太赫兹辐射的电场方向平行的角度；记录探测器接收到的检测信号强度，得到测量值I1；将待测电光晶体以切割面法线方向为旋转轴旋转90°，再次记录探测器接收到的检测信号强度，得到测量值I2；计算比值I1/I2；通过理论分析与计算得到比值I1/I2随角度α变化的理论曲线，然后将比值I1/I2与理论曲线对照，反推得到[‑1,1,0]晶轴相对于参考线的夹角角度。本发明的方法能够降低对测量设备及晶体制备的要求，操作方法简单。