- 专利标题: 用于高频低损耗陶瓷粉体质量检测方法及系统
-
申请号: CN202410824929.X申请日: 2024-06-25
-
公开(公告)号: CN118392732B公开(公告)日: 2024-09-27
- 发明人: 高珊 , 庄亚平 , 杜刘赓 , 田建强 , 陈新桥 , 史冰冰
- 申请人: 河北鼎瓷电子科技有限公司
- 申请人地址: 河北省石家庄市鹿泉经济开发区符家庄村京赞线以西307国道以北(方台沟以南)
- 专利权人: 河北鼎瓷电子科技有限公司
- 当前专利权人: 河北鼎瓷电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 河北省石家庄市鹿泉经济开发区符家庄村京赞线以西307国道以北(方台沟以南)
- 代理机构: 南京权盟知识产权代理事务所
- 代理商 龙欢
- 主分类号: G01N15/0227
- IPC分类号: G01N15/0227 ; G01N11/00 ; G01N15/00 ; G01N21/84 ; G01N21/85 ; G06T7/00 ; G06T5/10 ; G06T5/40 ; G06T5/70 ; G06T5/73 ; G06T7/62 ; G06V10/54 ; G06V10/74 ; G06V10/762 ; G06V10/764 ; G06V10/80
摘要:
本发明涉及陶瓷粉体检测技术领域,尤其涉及用于高频低损耗陶瓷粉体质量检测方法及系统,本发明提出以下方案,首先通过采样装置采集陶瓷粉体样本,通过图像传感器采集陶瓷粉体静态图像和陶瓷粉体动态图像,其次对陶瓷粉体静态图像和陶瓷粉体动态图像进行处理,提取颗粒分布特征和颗粒均匀特征,最后通过陶瓷粉体质量评估网络对输入参数进行训练,输出陶瓷粉体的质量检测结果,本发明结合图像处理技术对陶瓷粉体的质量进行检测,避免其他检测工作中对专业设备的需求,并通过无损检测降低粉体的损耗,提高检测准确性。
公开/授权文献
- CN118392732A 用于高频低损耗陶瓷粉体质量检测方法及系统 公开/授权日:2024-07-26