Invention Publication
- Patent Title: 用于里德堡原子场强测量的场强衔接方法、系统及设备
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Application No.: CN202311871439.7Application Date: 2023-12-29
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Publication No.: CN118209789APublication Date: 2024-06-18
- Inventor: 成永杰 , 靳刚 , 黄承组 , 彭博 , 康宁 , 刘星汛 , 齐万泉 , 赵显峰
- Applicant: 北京无线电计量测试研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区永定路50号12楼
- Assignee: 北京无线电计量测试研究所
- Current Assignee: 北京无线电计量测试研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区永定路50号12楼
- Agency: 中国航天科工集团公司专利中心
- Agent 张国虹
- Main IPC: G01R29/08
- IPC: G01R29/08

Abstract:
本发明属于微波电场强度测量领域,具体涉及了一种用于里德堡原子场强测量的场强衔接方法、系统及设备,旨在解决现有技术中对于微波场强,无法做到有效溯源,以及超外差方案场强测量的不确定度较高的问题。本发明包括:调整里德堡原子系统的参数得到EIT信号,结合微波频率绘制净功率和场强之间的关系图,作为第一关系图,计算第一关系图的斜率k1;调整里德堡原子系统的参数得到EIT信号,结合加入的耦合光绘制净功率和差频谱峰高度之间的关系图,作为第二关系图,计算第二关系图的斜率k2;基于斜率k1和斜率k2计算得到线性比率K。本发明可以降低里德堡原子场强测量的不确定度,且原理清晰、易于实现与应用。
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