发明公开
- 专利标题： 一种基于多分支波导的材料介电特性测试装置及方法
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申请号： CN202410242701.X申请日： 2024-03-04
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公开(公告)号： CN118191430A公开(公告)日： 2024-06-14
- 发明人: 刘国 , 王玮杰 , 李沐然 , 龚晓晴 , 司峰 , 姚叶雷 , 蒋伟 , 王建勋 , 罗勇
- 申请人： 电子科技大学
- 申请人地址： 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 专利权人： 电子科技大学
- 当前专利权人： 电子科技大学
- 当前专利权人地址： 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 代理机构： 电子科技大学专利中心
- 代理商 陈一鑫
- 主分类号： G01R27/26
- IPC分类号： G01R27/26
摘要：
该发明公开了一种基于多分支波导的材料介电特性测试装置及方法，涉及毫米波以及太赫兹频段测量技术领域。本发明提出的基于多分支波导的材料介电特性测试方法对E面空气间隙具有较高的容差性，可降低对样本尺寸的加工要求，并确保测试过程中不对样本造成损坏；同时，采用的标多分支波导杂模抑制好，无任何其他高阶模式存在，避免了了高阶模式存在的情况下而引起的谐振问题及由于模式不纯导致的误差问题。
