本发明公开了一种GIS或GIL内部插接触头状态检测方法及系统，所述方法包括：对母线导体两端施加恒流直流电流并测量整体回路电阻R0；在GIS或GIL外筒壁的插接触头标记处施加外磁场并测量外磁场下整体回路电阻R1、磁感应强度B1；在所述插接触头标记处施加反向外磁场，测量反外磁场下整体回路电阻R2，调整反向外磁场的大小，使R2满足R1‑R0＝‑(R2‑R0)，并测量的磁感应强度B2；根据B1、B2计算外磁场、反向外磁场下的触头触指压力FX1、FX2；根据FX1、FX2计算初始触头触指压力FX0，根据FX0判断插接触头状态。本发明能够在不拆解、重装GIS或GIL的情况下进行内部插接触头状态的精准检测。