本发明公开了基于X射线测量的铜箔测厚仪及其测量方法，涉及测厚设备领域，包括第一横板、第二横板、支撑板、置物机构、间歇转动机构、射线接收机构、射线发射机构和驱动机构。本发明中的基于X射线测量的铜箔测厚仪通过设置第一横板、第二横板、支撑板、置物机构、间歇转动机构、射线接收机构、射线发射机构和驱动机构，通过射线接收机构和射线发射机构对铝箔进行测厚；通过启动驱动机构，带动两个圆板同步间歇性转动，便于通过射线接收机构和射线发射机构对铝箔进行多点位测厚，提高了测量点的覆盖范围，便于提高测量的准确性。