一种铅封亚表面缺陷深度分析方法、系统及设备
摘要:
本发明公开了一种铅封亚表面缺陷深度分析方法、系统及设备,涉及电缆铅封亚表面缺陷深度分析领域,解决了现有技术对铅封亚表面缺陷深度的量化精度不高的问题,其技术方案要点是:获取电缆铅封亚表面缺陷的第一脉冲涡流差分检测信号;基于不同类别亚表面缺陷的标定曲线对第一脉冲涡流差分检测信号进行反演,获得电缆铅封亚表面缺陷的深度。本发明利用脉冲涡流检测信号累积值特征来替代传统的脉冲涡流检测信号峰值特征,提升铅封亚表面缺陷深度的量化精度。
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